光学計測機器ZYGO社

キヤノンマーケティングジャパン株式会社は、ZYGO社製光学計測機器の日本国内総代理店です。

会社概要

社名
Zygo Corporation
本社所在地
Laurel Brook Road, Middlefield, CT 06455-0448, USA
設立
1970年
事業案内
光学部品・計測機の製造販売
  • 2014年6月より、Zygo CorporationはAMETEKグループの一部門となりました。

事業内容

ZYGO社は、半導体産業、医療バイオ、科学、および諸工業に向けて、光学計測機、精密光学部品、およびエレクトロオプティクスの設計・製造を国内外に提供しています。さらに、ZYGO社は、顧客の計測アプリケーションに対応すべく、高品位の光学システムや部品の設計・製造を行っています。ZYGO社は、2つの事業部門に分かれており、それは、計測ソリューション部門「Metrology Solutions Division」と光学システム部門「Optical Systems Division」です。

計測ソリューション部門 「Metrology Solutions Division」

精密位置決めシステム、ビジョン・システム、計測システムの3つのビジネスユニットに分かれており、これらのシステムは、位置決め、表面形状、表面性状、膜厚の計測を目的とした、さまざまな光学的な位相解析の技術が駆使されています。

光学システム部門 「Optical Systems Division」

エレクトロオプティクス、光学部品の2つのビジネスユニットに分かれています。医療・生命科学、防衛、および諸工業に向けて、光学設計、アセンブリ、および精密な光学部品・光学システムをZYGOが長年培った専門知識で提供します。

沿革

西暦事業に関する出来事製品に関する出来事
1968ウェズリアン大学とキヤノンが研磨技術に関する共同研究を実施
1970アメリカ合衆国コネチカット州にて、研磨技術の研究開発を目的とするZYGO社を創業3名の創業者、ウェズリアン大学、キヤノンが出資
1972世界初の汎用レーザー干渉計モデルGH発売
1983米国NASDAQへ上場
1983世界初の位相シフト干渉計MarkIII発売
1987レーザー干渉計の顕微鏡モデルMaxim3D発売
1987レーザー干渉式測長機AXIOM発売
1990画期的なマルチウィンドウ解析ソフトウエアMetroPro発売
1993メインフレームを一新したレーザー干渉計GPI-XP発売
1993周波数領域解析技術FDAを搭載した走査型白色干渉計NewView100発売
1998レーザー測長システムZMIシリーズ発売
1998アーチ型コラムで耐振性が向上し、レンズタレットに対応した走査型白色干渉計NewView5000発売
1999光通信分野へ進出超精密マイクロレンズ測定機MicroLUPI発売
2000半導体検査装置分野へ進出300mmウエハー対応NewView、 CP-300発売
2000ブルーレーザー干渉計DVD400発売
2001フラットパネル検査装置分野へ進出液晶カラーフィルター検査用NewView、FPMシリーズ発売
2004小口径レーザー干渉計PTI250シリーズ発売
2005白色LED光源、高品位な光学系に進化したNewView6300発売
2005非球面対応のVeriFireAsphere発売
2008LEDを高輝度化、すべての制御をデジタル化したNewView7300発売
2010HDD業界向けの測定機に関する技術を保有するZeMetrics社を子会社化位相シフト&走査型白色干渉搭載のZeMapper発売
2011瞬間計測と動的解析に対応したレーザー干渉計DynaFiz発売
防振台不要のZeGage発売
2012 小型干渉計Mini発売
2013 Mxソフトウエア搭載の新世代3次元光学プロファイラーNexview™発売
2014 AMETEK社のグループ企業となり、上場廃止 Mxソフトウェア搭載のNewView8000シリーズ発売
2015超高解像度カメラ搭載の干渉計VerifireHD発売
NewViewの機能を継承した持ち運び可能な計測器Nomad発売
2016縦型で直径300mmを面精度保証。
大口径のワークステーションモデルVerifireXL発売
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