光学計測機器(ZYGO)
製品ラインアップ
粗さ計シリーズ
NewViewシリーズに同梱される解析ソフトウエア(MetroPro)ではさまざまな計測が可能です。それらの中から代表的なものをご紹介します。
レーザー干渉計シリーズ
レーザー干渉計はアクセサリーを充実させる事で、さまざまな測定が可能になります。測定の種類ごとに必要なアクセサリーをご紹介します。
レーザー測長シリーズ
新着情報
- 2012年1月23日2月15日(水)~2月17日(金)東京ビッグサイトで行われる国際ナノテクノロジー総合展・技術会議に出展致します。
- 2011年11月7日非接触3次元光学プロファイラー“ZeGage”を11月30日に発売します。
- 2011年11月1日2011年12月7日から幕張メッセで開催するセミコンジャパン2011に出展致します。
- 2011年10月14日立命館大学 教授 谷泰弘様へのユーザーインタビューを追加しました。
- 2011年9月26日ZYGO Meterology Seminar 2011の申し込み受付を開始しました。
- 2011年8月8日産業機器販売事業部は港南事業所へ移転しました。
- 2011年6月13日7月13日(水)~15日(金)に東京ビックサイトで行われる第22回マイクロマシン/MEMS展に出展致します。
- 2011年5月30日中部大学 教授 鈴木浩文様へのユーザーインタビューを追加しました。
- 2011年3月30日波面の動的計測の新標準となるレーザー干渉計モデルDynaFizを発売します。
- 2011年3月28日出展予定とお知らせしましたIntermold 2011 / 金型展2011の開催が中止となりました。
オフィシャルサイトに主催者からのお知らせが掲載されています。 - 2011年3月14日4月20日(水)~22日(金)にパシフィコ横浜で行われるレンズ設計・製造展 2010に出展致します。
- 2011年3月7日東北大学 教授 厨川様へのユーザーインタビューを追加しました。
- 2011年1月24日理化学研究所 主任研究員 大森整様へのユーザーインタビューを追加しました。
















