Metrology セミナー

お客さま各位

キヤノンマーケティングジャパン株式会社は、本年も米国ZYGO社の計測装置をお使いのお客さま向けのプライベートセミナーを開催致します。2003年の初回から9年連続の開催となります。
本年は、立命館大学 理工学部 の谷 泰弘教授を座長にお招きし、「表面性状の評価における干渉方式の面領域データの実用性」をテーマに諸先生からのご講演を賜ります。各講演後に質疑応答の時間を十分に設けております。皆さまの活発なご討議を期待しております。
業界の最先端でご活躍されていらっしゃる皆さまによる質疑応答の時間や、セミナー終了後の懇親会の場を利用いただくことで、ZYGO計測器の新たなご活用方法を発見していただくだけでなく、お客さまの新たなビジネスチャンスをも発見いただければ幸いです。

セミナー内容

セミナーテーマ

「表面性状の評価における干渉方式の面領域データの実用性」

チュートリアル：「表面凹凸形状の光学式測定を是とするための技術」

長岡技術科学大学　工学部　教授 柳 和久 様

講演1：「砥粒の滞留性を考慮した次世代研磨技術」

立命館大学 理工学部教授 谷 泰弘 様
スペシャルインタビューはこちら

講演2：「研磨プロセス改善のための干渉計の応用」

株式会社クリスタル光学　技術開発部　部長 桐野 宙治 様

講演3：“Evaluation of a new interference microscope for surface texture analysis” ～触針式粗さ計からシンプルに置き替えが可能な新しい干渉式顕微鏡の提案～

Zygo Corporation, R&D, Dr. Jan Liesener

懇親会

Canon S Tower 28階 SHINAGAWA CLUB （17時30分～19時00分）

※内容は、予告なく変更する場合がございますので、あらかじめご了承ください。