光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーGBS

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GBS社 製品紹介

GBS社（Gesellschaft für Bild- und Signalverarbeitung mbh、本社：ドイツ）の光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーは、三次元表面性状の国際規格ISO25178-604で定義されるCSI（垂直走査低コヒーレンス干渉法）に準じた製品です。
高解像度カメラ、GPUを用いた高速演算処理を活用し、高精細・高スループットな非接触三次元表面性状測定を実現します。
高いフレキシビリティを持つ計測ヘッドは測定対象物に適したカスタム仕様を可能にし、様々なアプリケーションでの豊富な導入実績があります。

導入実績例：
自動車業界／液晶パネル／印刷 etc.

導入アプリケーション例：
オンマシン計測／ロボット搭載／インライン計測（自動化）／シリンダー内壁測定

解析ソフトウェアは業界標準のMountainsMap®（Digital Surf社）を採用し、日本語での快適な操作で、自由度の高い解析やスムーズなデータつなぎ合わせ（スティッチング）を実現しています。

会社概要は右記リンク参照 GBS社 会社概要

新着情報

• 2021年5月14日2021年6月30日（水）～2021年7月2日（金）パシフィコ横浜で開催されるOPIE'21に出展致します。
  （キヤノンマーケティングジャパンブースのご紹介）
• 2020年11月30日解析ソフトMountainsMap®紹介ページを追加しました。
• 2020年11月5日10月27日（火）板橋区立グリーンホールで開催されました第7回板橋オプトフォーラムへ出展致しました。
  • ※なお当サイトは11月いっぱいで閉鎖予定となっております。予めご了承ください。
• 2020年4月6日新型コロナウイルス感染症の感染拡大の影響で、OPIE'20レンズ設計・製造展の開催中止が発表されております。
  弊社ブースへのご来場を予定されていたお客様には大変ご迷惑をお掛けいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。
• 2020年2月3日2020年4月22日（水）～2020年4月24日（金）パシフィコ横浜 展示ホールA・Bで開催されるOPIE'20レンズ設計・製造展へ出展致します。
  ◇ブースNo：L-53
• 2019年12月20日2020年1月29日～2020年1月31日 東京ビッグサイト 西2ホール／会議棟で開催されるInter Opto 2020へ出展致します。
  ◇ブースNo：2W-W19
• 2019年12月20日GBS社“smartWLI Cylinderinspector”
  Apre社“S100｜HR”、
  “SCI（Spectrally Controlled Interferometry）光源”デモ受付中。
• 2019年10月31日「GBS社測定動画」を公開しました。
• 2019年8月7日9月11日（水）～9月13日（金）東京ビッグサイト 南1-4ホール（2019年開設新棟）で開催される測定計測展2019／Measuring Technology Expo 2019（第49回全日本光学測定機展／第18回国際精密測定展）へ出展致します。
  ◇ブースNo：M-49
  ◇実務応用セミナー：9月12日（木）南ホール「測定計測展」内 セミナー会場C 13：45～14：05／「光学式三次元プロファイラーの製造現場での活用実績紹介」
• 2019年3月7日GBS社製光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーの代理店として国内独占販売を開始しました。