光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーsmartWLI extended特長

高機能・高速スキャン フラッグシップモデル smartWLI extended

商品概要

5M画素カメラ・GPU(NVIDIA®等)の採用により、高精細・高スループットな測定を実現した、高機能・高速スキャン光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーです。最大400μmスキャニング、直進性0.03%の高品質なスキャナーを搭載した最上位機機種です。4ポジションターレット装着による対物レンズの切り替えが可能であり、幅広い測定対象物に1台で対応可能なモデルです。

基本情報

smartWLI extended
商品名
smartWLI extended

特長

お問い合わせ

電話でのお問い合わせ

商品ごとにお問い合わせ番号が異なります。
他の商品のお問い合わせは、お手数ですが「電話でのお問い合わせ」より、該当商品を選択してください。

お問い合わせ部門:産業機器事業部 第二営業本部 計測分析機器部 計測機器課

電話番号
03-3740-3334
  • おかけ間違いにご注意ください。
受付時間
  • 平日9時00分~17時30分
  • 土日祝日と年末年始弊社休業日は休ませていただきます。
このページのトップへ