光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーsmartWLI prime特長

高速スキャン スタンダードモデル smartWLI prime

商品概要

5M画素カメラ・GPU(NVIDIA®等)の採用により、高精細・高スループットな測定を実現した、高速スキャン光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーです。最大400μmスキャニング、直進性0.03%の高品質なスキャナーを搭載したスタンダードモデルです。高分解能、高精細、高スループットな測定機のリーズナブルな価格帯での提供を実現したモデルになります。

基本情報

smartWLI prime
商品名
smartWLI prime

特長

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